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CSK-IA超声波试块
CSK-IA超声波试块 是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况
时间:2020-10-27型号:厂商性质:生产厂家浏览量:1929查看详细介绍